Wafer Probe plata er aðferð til að þróa og framleiða hálfleiðara sem gerir kleift að prófa hverja skífu. Keramik rannsaka plata er nauðsynleg tilvist á sviði hálfleiðara flísarframleiðslu. Það er að mestu leyti úr hágæða keramik eða sérstökum samsettum efnum, með framúrskarandi mikilli hörku og slitþol, getur veitt stöðugan og áreiðanlegan stuðningsvettvang fyrir rannsakann og verður ekki auðveldlega aflagað eða skemmt. Algengt er að plata úr skífu er notuð til að prófa gæði skífur eða rörkjarna í hálfleiðaraiðnaðinum og með aukinni eftirspurn eftir rafeindatækjum í dag hefur gæði íhluta rafeindabúnaðar einnig orðið mikilvægt mál í hálfleiðaraiðnaðinum.
Skurður á skífu
Rannsóknir á skífu er ferli við þróun og framleiðslu hálfleiðara eftir að samþætta hringrásin er notuð á skífuna, þar sem hver flís á skífunni er prófaður rafmagn í einingu og draga þannig úr kostnaði.
Probing Procing Process
Wafer Probe Plate hleðst og staðsetur skífuna nákvæmlega á kringlóttan plötu sem kallast skífu chuck og notar síðan nálina á rannsaka kortinu til að samræma nákvæmlega tengingarpúða skífunnar. And the Ceramic probe plate, through the coordinated operation of other components, can obtain the detailed information required for precise alignment, so as to accurately configure the probes on the bonding pads that are precisely aligned in both horizontal and vertical directions, ensuring the accuracy and Árangur alls skoðunarferlisins.